—— PROUCTS LIST
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- 電阻測試儀
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- 完整性測試儀
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- 磨擦磨損試驗機
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- 落錘沖擊試驗機
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- 氧指數試驗儀
- 泡沫落球回彈試驗儀
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- 熱變形維卡軟化點測試儀
- 落球沖擊試驗機
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- 海綿落球回彈率測試儀
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- 裁刀
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- 擺錘沖擊試驗機
- 熱變形維卡軟化點測定儀
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- 疲勞沖擊測試儀
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- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗箱
- 可塑性試驗機
- 導熱系數測定儀
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- 海綿泡沫拉伸強度試驗機
- 電池內阻測試儀
- 石油產品全自動凝點傾點測試儀
- 閉口閃點全自動測定儀
- 計算機控制電弱點試驗機
氧化鋁陶瓷介質損耗測試儀范圍和精度是多少?
?介質損耗測試儀對氧化鋁陶瓷的測量范圍和精度?取決于具體儀器型號,但通常覆蓋介損值 ?0.00005~0.1?,測量精度可達 ?±(5%±0.0001)?。
根據主流設備參數,針對氧化鋁陶瓷這類高頻絕緣材料,典型測試能力如下:
?測量頻率范圍?:20 Hz ~ 5 MHz,適用于分析氧化鋁陶瓷在不同頻率下的介電性能變化。
?介電常數(ε)測量范圍?:1 ~ 10?,滿足氧化鋁陶瓷(通常為 9–10)的測試需求。
?介質損耗角正切(tanδ)測量范圍?:0.1 ~ 0.00005,適合低損耗材料的精細分辨。
?測量精度(10 kHz 下)?:
介電常數:?±2%?介質損耗:?±5% ±0.0001?,確保微小損耗變化可被準確捕捉。
?高精度儀器性能?:部分專業設備如 DEAI100 介電分析儀,介質損耗精度可達 ?0.005%?,適用于陶瓷基板的低損耗測試。

?阻抗測量范圍與精度?
典型阻抗范圍:毫歐級(mΩ)至太歐級(TΩ),部分設備可達100 TΩ
基本測量精度:高精度型號可達±0.045%(如Keysight E4990A),部分可達0.08%
小可測電容:<1 pF,適合微小電容元件分析
?測量參數多樣性?
支持多種參數輸出,包括:
基本參數:|Z|、R、X、L、C、D、Q、θ
復數參數:復數阻抗Z、導納Y
材料參數:介電常數(εr)、磁導率(μr)等,部分儀器可直接讀取
?等效電路分析功能?
提供多模型擬合(如7種基本等效電路模型),幫助用戶解析復雜器件的內部結構,提升研發與故障分析效率。
?直流偏置與掃描功能?
內置直流偏置源(0~±40 V 或 0~±100 mA),支持在偏壓條件下測試電容器、鐵電材料等
支持頻率、電壓、電流、溫度等多種掃描模式,實現動態特性分析
?接口與自動化支持?
配備USB、GPIB、LAN等通信接口,支持計算機控制與數據導出,便于集成到自動測試系統中。
典型應用場景
?電子元件測試?:電容、電感、電阻的質量檢測與分選;壓電陶瓷、超聲波換能器的頻率響應分析
?電路與系統設計?:PCB走線阻抗匹配驗證;射頻模塊(如天線、濾波器)的調試優化
?材料科學研究?:介電常數、磁導率等電磁特性的表征;導電涂料、抗靜電材料性能評估
?生物醫學應用?:人體體成分分析(脂肪率、肌肉量);細胞阻抗譜用于疾病診斷或藥物篩選
?工業檢測?:硅酸鹽熔體電導率測量、涂層材料老化分析等
GDAT-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀,體積小,緊湊便攜,便于上架。本系列儀器基本精度為0.05%,測試頻率高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口,能滿足自動分選測試,數據傳輸和保存的各種要求。
◎可直接得到介電常數和介質損耗 不用人工計算
◎可測試電阻
◎ 4.3寸TFT液晶顯示
◎ 中英文可選操作界面
◎ 高5MHz的測試頻率
◎ 平衡測試功能
◎ 變壓器參數測試功能
◎ 高測試速度:13ms/次
◎ 電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
◎ V、I 測試信號電平監視功能
◎ 內部自帶直流偏置源
◎ 可外接大電流直流偏置源
◎ 10點列表掃描測試功能
◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內阻
◎ 內建比較器,10檔分選和計數功能
◎ 內部文件存儲和外部U盤文件保存
◎ 測量數據可直接保存到U盤
◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1~105
具體參數詳請聯系北廣精儀銷售經理陳丹
ε和D性能:
固體絕緣材料測試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測試。
ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
測試參數 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 :20 Hz~2MHz,10mHz步進
測試信號電:f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 ;0.1%
顯示范圍 :
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C :0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
顯示范圍 :
Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D :0.0001 ~ 9.9999
Q :0.0001 ~ 99999
θ :-179.99°~ 179.99°
測量速度 ;快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準
等效方式 :串聯方式, 并聯方式
量程方式:自動, 保持
顯示方式 :直讀, Δ, Δ%
觸發方式 :內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏 :電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 :電流模式(內阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能:10檔分選及計數功能
顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 :可保存20組儀器設定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)
工作頻率范圍:20Hz~2MHz 數字合成,
精度:±0.02%
電容測量范圍:0.00001pF~9.99999F 六位數顯
電容測量基本誤差:±0.05%
損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數顯
介電常數測試裝置(含保護電極): 精密介電常數測試裝置提供測試電極,能對直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣測量。
它針對不同試樣可設置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。
微分頭分辨率:10μm
高耐壓:±42Vp(AC+DC)
電纜長度設置:1m


